冷熱沖擊試驗箱測試導致BGA失效的原因
文章出處：正航儀器
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發(fā)表時間：2014-01-06
本周正航儀器的工程師使用冷熱沖擊試驗箱測試BGA，根據(jù)試驗結果，得出了其失效的原因，下面和大家分享，以供參考：
1、通過冷熱沖擊試驗對BGA封裝進行了可靠性測試，在通過600 個循環(huán)試驗后發(fā)現(xiàn)，由于焊料的CTE與焊球和焊盤的CTE 不匹配，導致焊料在高速的溫度變化率和長久的高低溫段的停留中，應力未能完全釋放而形成空洞和晶格缺陷。
2、PCB 板的制作過程中在板面遺留下來的物質(zhì)會在熱應力下被氣化而導致焊盤與基材之間連接不牢靠而造成分離。另外，焊料會與經(jīng)過沉Ni/Au 處理的焊盤表面的物質(zhì)相互擴散，從而降低它們之間的連接能力，使BGA 失效。
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